X射線熒光光譜法檢測高嶺土

時(shí)間：2014-05-04 14:22:05

作者：世邦機(jī)器

王剛(2003)采用X射線熒光光譜(XRF)法取代原有的化學(xué)法，測定了高嶺土中的9種主量，以及次量元素硅、鋁、鐵、鈣、鎂、鉀、鈉、鈦和錳。通過對測定條件以及樣品制備方面進(jìn)行考察，制定出較佳的分析方案。該方法分析時(shí)間短(僅為10min)，精密度和準(zhǔn)確度都較好。

張萍等(2010)采用混合熔劑(用四硼酸鋰作主要熔劑，加入200g/LLiBO2水溶液為助熔劑)熔樣，用XRF法測定了催化原料高嶺土的化學(xué)組分硅、鋁、鐵、鈣、鎂、鈦和鉀。結(jié)果表明，該方法簡便、快速(分析時(shí)間僅為傳統(tǒng)濕法化學(xué)分析的1/8)，準(zhǔn)確度較高，精密度好(重復(fù)測定高嶺土主量和次量組分的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差小于0.83%)。

宋曉(2009)采用熔融制樣X射線熒光光譜法測定了高嶺土中硅、鋁、鐵、鈦、鉀、鈉、鈣、鎂和硫9種成分，分析結(jié)果較好。所得結(jié)果與化學(xué)分析結(jié)果相符，同時(shí)采用熒光光譜法更為迅速、快捷，是實(shí)際高嶺土磨粉機(jī)生產(chǎn)中化學(xué)成分分析的一種有效方法。

謝敏等(2009)將高嶺土樣品用高嶺土的生產(chǎn)設(shè)備粉碎至300目后壓片制樣，直接用AxiosPW4400X射線熒光光譜儀測定，采用外標(biāo)法進(jìn)行定量。

實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)表明，元素含量在0〜1.0%范圍內(nèi)時(shí)，校準(zhǔn)曲線的線性良好，RMS為0.02296%，品質(zhì)系數(shù)K為0.0369701%，平均回收率在90%〜110%之間，相對標(biāo)準(zhǔn)偏差為0.915%。該方法簡化了樣品前處理過程，縮短了分析時(shí)間，檢測周期減少到20min左右。

向清德等(2006)采用XRF法快速測定高嶺土中各主量和次量元素。張志峰等(2007)建立了用X射線熒光光譜法分析天然高嶺土中主量組分鋁和硅，次量組分鐵、鈣、鈦、鎂、鉀和鈉的方法，都取得令人滿意的結(jié)果。

綜上所述，XRF法可同時(shí)測定高嶺土中的主量和次量元素，而且試樣制備方法簡便，基體效應(yīng)和元素間影響較小，因而其精密度好，準(zhǔn)確度高，是其它分析方法所無法比擬的，因此該方法廣泛用于高嶺土中主量和次量元素的測定。